Дифрактометр рентгеновский Vektor GaN

Принцип действия дифрактометра основан на дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемой структуры в соответствии с законом Вульфа-Брегга. Дифрактометр предназначен для анализа тонкослойных эпитаксиальных структур на основе нитрида галлия (GaN).

Результатом измерений является зависимость интенсивности рентгеновских лучей, дифрагированных на кристаллической решетке исследуемой структуры, от угла дифракции. На основе полученных данных программное обеспечение дифрактометра позволяет проводить анализ параметров и состава исследуемой структуры.

Конструктивно дифрактометр состоит из основного блока, системы охлаждения (чиллера) и вынесенных монитора и клавиатуры управляющего компьютера. Основной блок состоит из источника рентгеновского излучения, детектора, держателя для образца и управляющего компьютера.

Дифрактометр имеет несколько независимых систем защиты от выхода рентгеновского излучения из корпуса.

Маркировочная табличка с буквенно-цифровым заводским номером выполнена типографским способом и наклеена на заднюю панель дифрактометра.

Пломбирование дифрактометра не предусмотрено. Конструкция дифрактометра обеспечивает ограничение доступа к частям дифрактометра, несущим первичную измерительную информацию, и местам настройки (регулировки).

Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено.

Общий вид дифрактометра представлен на рисунке 1. Маркировочная табличка с заводским номером представлена на рисунке 2.

Рисунок 1 - Общий вид дифрактометра

Рисунок 2 - Маркировочная табличка с заводским номером

К данному типу средств измерений относится дифрактометр рентгеновский Vektor GaN, зав. № LS04134A.